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Revolutionize Your Surface Analysis with Fiber Optic Spectrometer for Film Thickness Measurement

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Revolutionieren Sie Ihre Oberflächenanalyse mit einem Faseroptik-Spektrometer zur Schichtdickenmessung

Min Bestellmenge :	1	Preis :	Verhandlungsfähig
Verpackung Informationen :	Internationale Versandverpackungen	Lieferzeit :	90-120 Werktage
Zahlungsbedingungen :	T/T, Western Union	Versorgungsmaterial-Fähigkeit :	100PCS/90-120 Tage

Herkunftsort:	China	Markenname:	JINSP
Zertifizierung:	ISO9001	Modellnummer:	SR100Q
Dokument:	Produktbroschüre PDF

Detailinformationen
Spektralbereich:	200 nm - 1100 nm	Effektive Pixel:	1024*122
Qutuam-Effizienz:	QE92% Peak@650nm, 83%@232nm	SNR:	1000:1

Produkt-Beschreibung

92% hohe Quantenspektrometer fürFilmmengthaltungsmessung

In Sektoren, die von Dünnschichtbeschichtungen abhängen, sorgen genaue Dickendaten für eine optimale Produktfunktion.Wenn sie mit prädiktiven Algorithmen erweitert werdenDiese Technologien ermöglichen es den Herstellern, neue Effizienz- und Innovationsstandards zu erreichen.

Das JINSP SR100Q-Spektrometer ist mit dem Hamamatsu S7031 integriert, einem wissenschaftlich hochwertigen TE-gekühlten CCD-Chip.Mit einer Pixelgröße von bis zu 24*24μm und einer hervorragenden Quanteneffizienz von bis zu 92%, gewährleistet eine hohe Reaktionsfähigkeit im ultravioletten Band und verbessert effektiv die Empfindlichkeit und SNR schwacher Signale.und stabile und zuverlässige Leistung basierend auf dem fortschrittlichen hochauflösenden Lichtpfad und geringen Geräuschen, ein Hochgeschwindigkeits-FPGA-Signalverarbeitungschip.

Produktparameter:

DEktore	Typ des Chips	Hintergrundbeleuchtung, TE-gekühlt, Hamamatsu S7031
	Effektives Pixel	1024*122
	Pixelgröße	24*24 μm
	Sensorbereich	24.576*2.928mm
Optische Parameter	Optisches Design	F/4 Kreuztyp
	Numerische Öffnung	0.13
	Brennweite	100 mm
	Eintrittsschlitzbreite	10 μm, 25 μm, 50 μm, 100 μm, 200 μm (anpassbar)
	Faseroberfläche	SMA905, freier Raum.
Elektrotechnik Parameter	Integrationszeit	8 ms-3600s
	Datenausgabe-Schnittstelle	USB3 ist da.0,RS232, RS485, 20-Pin-Anschluss
	ADC-Bittiefe	16 Bit
	Stromversorgung	5V
	Betriebsstrom	< 3,5 A
Körperliche Parameter	Betriebstemperatur	10°C bis 40°C
	Speichertemperatur	-20°C bis 60°C
	Betriebsfeuchtigkeit	< 90% RH (keine Kondensation)
	Abmessungen	180 mm120 mm50 mm
	Gewicht	1.2 kg

Liste der Produktmodelle:

Modell	Spektralbereich ((nm)	Auflösung ((nm)	Schlitz (μm)
Einheitliche Datenbank Einheitliche Prüfungen	200 bis 950 350 bis 1100	6.8	200
		2.2	50
		1.5	25
		1.0	10
Einheitliche Prüfungen Einheitliche Datenbank	200 bis 775 350 bis 925	1.6	50
		1.0	25
		0.7	10
Einheitliche Datenbank für die Berechnung der Zinssätze	532 ~ 690 ((4400cm-1)	13 cm-1	50
Einheitliche Prüfungen	638 ~ 800 ((3200cm-1) *	10 cm-1	25
SR100Q-G27	785 ~ 1050 ((3200cm-1) *	11 cm-1	50

**Anmerkung: Die * sind hauptsächlich für Raman-Anwendungen mit dem entsprechenden Raman entwickelt.**

Technische Merkmale:

Hohe Quanteneffizienz, 92% Spitzenwert @650nm, 83% @232nm
Hohe SNR: Ultra-niedriges dunkles Rauschen unter langer Integrationszeit, SNR bis zu 1000:1

Geräuschfreie klare Verarbeitung eines schwachen Signals bei langer Belichtung, starke Anpassung an die Umwelt
Geräuscharme und schnelle Schaltung: USB3.0

Messmethode:

Das System verwendet eine optische Faser, um Licht auf den Film zu projizieren, wodurch Reflexionen an seiner oberen und unteren Grenze entstehen.erleichtert die Berechnung der Dicke (d) mittels der Extremum-Methode (mit θ), n und Spektralspitzen/Tropfen). Die Frequenz der Grenzen steigt mit der Dicke, sinkt aber mit der Wellenlänge. Genaue Messwerte hängen von der Optimierung der Spektralparameter ab.

Revolutionieren Sie Ihre Oberflächenanalyse mit einem Faseroptik-Spektrometer zur Schichtdickenmessung 0

Typische Anwendungen:

Absorptions-, Transmittanz- und Reflexionsspektrum erkennen
Charakterisierung der Lichtquelle und der Laserwellenlänge
OEM-Produktmodul: Fluoreszenzspektrum, Raman-Spektrum usw.

Revolutionieren Sie Ihre Oberflächenanalyse mit einem Faseroptik-Spektrometer zur Schichtdickenmessung 1

Revolutionieren Sie Ihre Oberflächenanalyse mit einem Faseroptik-Spektrometer zur Schichtdickenmessung 2

Einführung in die Firma:

JINSP Company Limited, abgekürzt als "JINSP", ist ein professioneller Lieferant mit über 17 Jahren Erfahrung in Spektraldetektierungstechnologieprodukten, einschließlich Raman-, FT-IR-, LIBS-Technologien usw.Nach 17 Jahren Technologieansammlung, haben die Kernschlüsseltechnologien des Unternehmens die internationale Führungsposition erreicht, und die kumulative Anzahl der Patentanmeldungen hat 200 überschritten.

Zusätzlich zu ihrem Hauptsitz in der geschäftigen Stadt Peking hat JINSP eine in vollem Eigentum befindliche Tochtergesellschaft in der Provinz Jiangsu, China, gegründet.

Die JINSP-Firma erhielt die ISO9001:2015, ISO14001:2015JINSP kann die erforderlichen Zertifizierungen, wie z. B. die Zertifizierung durch das Ministerium für öffentliche Sicherheit oder das Nationale Institut für Metrologie, erbringen.Zertifizierung auf Umweltniveau, IP-Level-Zertifizierung, CE-Zertifizierung, Transport-Identifikationsbericht, EU-ECAC-Zertifizierung, deutsche IKT-Sicherheitstests usw..

Häufig gestellte Fragen

F1: Dies ist das erste Mal, dass ich es benutze, ist es einfach zu bedienen?

A1:Wir senden Ihnen ein Handbuch und eine Anleitung in englischer Sprache, die Ihnen beibringen kann, wie Sie das Spektrometer bedienen.

F2: Können Sie eine Operation für die Ausbildung anbieten?
A2: Ihre Techniker können zu einer Ausbildung in unserer Fabrik kommen.
(Installation, Ausbildung, Fehlerbehebung, Wartung).

F3: Was ist Ihre Website?
A3: Sie können auf www.jinsptech.com besuchen

F4: Wie sieht es mit Ihrer Qualitätssicherung aus?

A4: Wir haben ein Qualitätsinspektionsteam. Alle Waren werden vor dem Versand durch die Qualitätsinspektion gehen. Wir können Ihnen Bilder zur Inspektion schicken.

Größe und Tag:

Handheld Raman Spektrometer(89)

Raman-Gasanalysator(29)

Raman-Analysator-Prozessgeräte(35)

Kompaktes CMOS-Spektrometer(49)

Glasfaserspektrometer(53)

Nahe-Infrarot-Spektrometer(28)

Moduläres Raman-Spektrometer(31)

Handheld-LIBS-Analysator(10)

CMOS-Strahlprofiler(8)

Nanosekunden-Pulslaser(5)

Nichtplaner-Ring-Oszillatorlaser(6)

Raman-Sonde und Strömungszelle(8)

Desktop-Raman-Spektrometer(13)

FTIR-Spektrometer(13)

OZT-Spektrometer(13)